Détecteur de défauts et jauge d'épaisseur Dakota NDT série FX70 Broadband 1.8-19MHz (-3dB), three narrow bands at 2MHz, 5MHz, 10MHz
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FX70-DL
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Caractéristiques
- Vues d'affichage :
- Détecteur de défauts : onde complète, +/- rectifié ou RF
- Jauge d'épaisseur : chiffres, +/- rectifié, RF ou B-Scan
- Résolution (sélectionnable) : +/- 0,001 po (0,01 mm) ou +/- 0,0001 po (0,001 mm)
- Synchronisation : synchronisation TCXO de précision avec numériseur ultra basse consommation 8 bits à 100 MHz à un coup
- Modes de mesure de la jauge d'épaisseur :
- Pulse-Echo (P-E) : piqûres et défauts, 0,025 à 96 po (0,63 mm à 244 cm)
- Pulse-Echo Coating (PECT) : matériau, revêtement, piqûre et défaut, 0,025 à 96 po (0,63 mm à 244 cm)
- Pulse-Echo Temp Comp (PETP) : piqûre et défaut, compensation automatique de la température, 0,025 à 96 po (0,63 mm à 244 cm)
- Echo-Echo (E-E) : à travers la peinture et les revêtements, 0,05 à 4 po (1,27 à 102 mm)
- Echo-Echo Verify (E-EV) : à travers la peinture et les revêtements, 0,05 à 1 po (1,27 à 25,4 mm)
- Coating Only (CT) : épaisseur du revêtement, 0,0005 à 0,1 po (0,0127 à 2,54 mm)
- Mode de mesure du détecteur de défauts :
- Impulsion-écho (P-E) : 0,025 po à 100 pi (0,63 mm à 3 048 cm)
- Bandes de fréquences :
- FX70-DL : large bande 1,8 - 19 MHz (-3 dB)
- FX71-DL : large bande 1,8 - 19 MHz (-3 dB) ; trois bandes étroites à 2 MHz, 5 MHz, 10 MHz
- Option d'étalonnage à un ou deux points pour le matériau et le revêtement, ou sélection de types de matériaux de base
- Mise à zéro automatique de la sonde, reconnaissance et compensation de température
- Jusqu'à 50 lectures par seconde en mode de numérisation haute vitesse
- 64 configurations définissables par l'utilisateur transférables vers et depuis une archive PC
- Mémoire interne de 4 Go
- Connectivité PC USB-C 1.1 directe
- Écran couleur AMOLED VGA 1/4
- Étalonnage d'usine traçable au NIST et MIL-STD-45662A
- Garantie limitée de 2 ans
Le détecteur de défauts et jauge d'épaisseur Dakota NDT série FX70 combine une détection de défauts de pointe avec des capacités avancées d'épaisseur de matériau. Lorsque la jauge FX70 est réglée sur jauge d'épaisseur, elle mesure simultanément les revêtements et l'épaisseur du matériau. Lorsqu'elle est réglée sur détecteur de défauts, la jauge détecte la taille et la position des défauts et fait la différence entre les types de défauts dans divers matériaux et joints soudés. L'utilisateur peut définir des limites haute/basse pour l'indication de réussite/échec avec des avertissements sonores et un mode différentiel intégré pour les inspections de contrôle qualité.
La jauge FX70 offre un choix de modes d'affichage, notamment des affichages A- et B-Scan et des modes de détection de défauts tels que TRIG, DAC, TCG, Flank et Peak. La fonction de gain corrigé dans le temps (TCG) compense automatiquement l'atténuation du son à travers un matériau, augmentant encore les performances de la jauge.
Le FX70 stocke jusqu'à 4 Go de lectures avec des images A/B-scan en lots alphanumériques avec enregistrement complet des données et mises à jour du micrologiciel via la sortie de données USB vers le logiciel de gestion des données DakMaster.
