로렐 로리트 옴 패널 미터

Laurel Laureate™ 옴 패널 미터는 접촉 저항 측정과 같은 생산 환경에서 고속, 고정확도 저항 측정에 이상적입니다. 20옴에서 200k옴까지 5개의 점퍼 선택 가능 저항 범위에 대해 공장에서 교정되었습니다. 정확도는 전체 범위의 ±0.01% ±2 카운트로 매우 우수합니다. 분해능은 20,000분의 1입니다. 20옴 범위에서 분해능은 1밀리옴으로, 이 미터는 접촉 저항 및 전도도 측정에 적합합니다. 공장 수정을 통해 2Mohm 범위를 추가로 사용할 수 있습니다.

확장형 오옴계 버전은 출력이 변화하는 저항인 비선형 센서와 함께 사용하기에 이상적입니다. 곡선 스플라인 피팅을 통해 매우 정확한 사용자 정의 곡선 선형화가 제공되며, 판독값은 소프트웨어에서 사용자가 선택한 엔지니어링 측정 단위로 읽을 수 있도록 조정할 수 있습니다.

미터 연결은 2, 3 또는 4개의 와이어를 통해 이루어질 수 있습니다. 4와이어 연결의 경우 2개의 와이어는 여기를 위해 사용되고 2개의 별도 와이어는 측정할 저항의 전압을 감지하는 데 사용되어 리드 저항 효과를 제거합니다. 3와이어 연결의 경우 미터는 측정할 저항의 결합된 전압 강하와 2개의 여기 리드를 감지합니다. 또한 한 여기 리드에서 전압 강하를 감지한 다음 이 전압의 두 배를 합산된 총 전압에서 뺍니다. 이 기술은 여기 리드가 동일한 경우 리드 저항을 효과적으로 뺍니다.

모든 저항 범위는 공장에서 디지털로 교정되며 교정 계수는 신호 컨디셔너 보드의 EEPROM에 저장됩니다. 이를 통해 미터를 다시 교정하지 않고도 현장에서 범위와 신호 컨디셔너 보드를 변경할 수 있습니다. 원하는 경우 미터는 외부 표준과 소프트웨어의 스케일 및 오프셋을 사용하여 쉽게 교정할 수 있습니다.

전체 전원 주기 동안 신호를 통합하는 동안 초당 최대 60 또는 50번의 변환에서 높은 판독 속도는 동시 기울기 아날로그-디지털 변환을 통해 제공됩니다. 높은 판독 속도는 고처리량 제조 공정에 이상적입니다. 피크 및 밸리 값은 자동으로 캡처되며 전면 패널 푸시 버튼 명령이나 후면 커넥터의 제어 신호를 통해 표시되거나 직렬 데이터로 전송될 수 있습니다.

Laurel Laureate™ 옴 패널 미터는 시스템 사용을 위해 설계되었습니다. 통신 및 제어를 위한 옵션 플러그인 보드에는 이더넷 및 기타 직렬 통신 보드, 듀얼 또는 쿼드 릴레이 보드, 분리된 아날로그 출력 보드가 포함됩니다. Laureate는 85-264Vac 또는 옵션으로 12-32Vac 또는 10-48Vdc에서 전원을 공급받을 수 있습니다. 디스플레이는 빨간색 또는 녹색 LED로 제공됩니다. 1/8 DIN 케이스는 패널 장착 시 전면에서 NEMA 4X(IP65) 사양을 충족합니다. 모든 설정 기능과 전면 패널 키는 간소화된 사용 및 보안을 위해 잠글 수 있습니다. 모든 전원 및 신호 연결은 UL/VDE/CSA 정격 나사 클램프 플러그를 통해 이루어집니다.

소프트웨어에서 여러 릴레이 작동 모드를 선택할 수 있습니다. 이 중 하나는 대역 편차 설정점 작동으로, 편차 한계(예: 50카운트)가 설정점의 양쪽 주위에 설정됩니다. 릴레이는 판독값이 편차 대역 내에 있을 때 닫히고(또는 열리고), 판독값이 이 대역 밖에 있을 때 열립니다(또는 닫힙니다). 이 모드는 설정점 주위에 통과 대역을 설정하고 종종 구성 요소 테스트에 사용됩니다.