Analyseur de vibrations Rion VA-12
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Caractéristiques
- Le port USB permet d'utiliser l'appareil comme disque amovible
- 1 canal de mesure
- Mode vibromètre :
- ACC (accélération) : valeur efficace de 0,01 m/s2, valeur de crête de forme d'onde, facteur de crête
- VEL (vitesse) : valeur efficace mm/s
- DISP (déplacement) : mm EQp-p
- Mode FFT :
- 512 à 8 192 points d'analyse (3 200 lignes)
- Fonctions de fenêtre temporelle : rectangulaire, Hanning, flat-top
- Traitement : moyenne linéaire, maximum, moyenne exponentielle, valeur instantanée
- 100 Hz à Plage de fréquence de 20 kHz
- Conformité aux normes :
- Marquage CE
- Directive DEEE
L'analyseur de vibrations Rion VA-12 est capable de fonctionner dans trois modes : mode vibromètre, mode menu et mode analyseur FFT. Le mode vibromètre permet de mesurer simultanément l'accélération, la vitesse, le déplacement et le facteur de crête d'accélération. Le mode menu utilise un écran TFT couleur net (240 x 320 points) qui est facilement lisible à l'extérieur, à l'intérieur ou dans un endroit sombre. Le mode analyseur FFT fournit une fréquence d'analyse en temps réel jusqu'à 20 kHz, et affiche l'affichage de la forme d'onde temporelle et l'affichage du spectre avec jusqu'à 3 200 lignes spectrales, et le traitement d'enveloppe est également pris en charge. Une fonction d'enregistrement des données de forme d'onde de vibration est prise en charge à 10 secondes à une fréquence d'analyse de 20 kHz, et les données sont stockées au format de fichier WAVE sur la carte mémoire (SD). La mesure automatique est contrôlée par minuterie.
Applications :
- Développement de produits : mesure des vibrations à différents stades de développement
- Assurance qualité : tests avant expédition, contrôles de fonctionnement après installation
- Maintenance : tests de démarrage après maintenance et entretien périodiques
- Diagnostic simple : contrôles de routine quotidiens et surveillance des conditions de vibration inhabituelles
- Diagnostic de précision : mesure des vibrations problématiques et détection des sources de défaut
