Optris OPTXI40LTF20CFKT090 Xi 410 顯微鏡套件

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功能

  • 光學解析度:382x288 像素
  • 溫度範圍(可縮放):
    • –20 至100°C(–4 至212°F)
    • 0 至250°C(32 至482°F)
    • 200 至1500°C(392 至2732°F)
  • 熱靈敏度(NETD ): 80mK @ 27Hz
  • MFOV:90mm 處為240μm
  • 最小測量點(FOV):90mm 處為81μm
  • 瞬時視場(IFOV): 80μm
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  • 光譜範圍:8 – 14µm
  • 顯微鏡光學元件:18° x 14° (f = 20mm)
  • 幀率: 80 / 27Hz
  • 手動馬達對焦
  • 環境溫度範圍:0 至50°C(32 至122°F)
  • 偵測器:FPA,非冷卻(17μm 間距)
  • 精度:±2°C 或±2%(±4°F 或±2%),以較大者為準
  • PC 介面:USB 2.0
  • 製程介面(PIF):0 –10V 輸入、數位輸入(最大24V)、0–10V 輸出
  • 認證/核准:IP67、NEMA 4、IEC 60068-2- 27/6/64
  • 三腳架安裝:1/4-20 UNC
  • 電源:USB 供電

Optris OPTXI40LTF20CFKT090 Xi 410 顯微鏡套件以 Xi 400 紅外線相機為中心,解析度為 382x288 像素,可擴展溫度範圍為 -4 至 212°F 至 392 至 2732°F,可擴展溫度靈敏度為 80mK。該裝置的外殼符合 IP67 (NEMA 4) 等級,具有衝擊和振動保護。 OPTXI40LTF20CFKT090 非常適合評估電路板元件是否有瑕疵零件、電路路徑尺寸不正確和/或焊接接頭不良。裝置的測量範圍在 90 至 110mm 之間,最小可分析物體從 240μm 開始。

手動馬達對焦功能允許透過標準發行的熱成像軟體包 PIX Connect 進行輕鬆調整。這款免許可軟體可讓使用者輕鬆處理輻射記錄、即時分析溫度數據、設定等級警報以及進行其他調整以最適合當前的應用。 USB 2.0 連線可讓使用者透過每個裝置隨附的免許可 PIX Connect 熱成像軟體包與 PC 進行資料記錄和分析。

optris-optxi40ltf20cfkt090-xi-410-microscope-kit-datasheet (optris-optxi40ltf20cfkt090-xi-410-microscope-kit-datasheet.pdf, 789 Kb) [下載]

optris-optxi40ltf20cfkt090-xi-410-microscope-kit-manual (optris-optxi40ltf20cfkt090-xi-410-microscope-kit-manual.pdf, 4,316 Kb) [下載]

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